Análisis Cualitativo y Cuantitativo
Presentación del tema
En esta clase digital, repasaremos los fundamentos de la técnica de análisis cualitativo y cuantitativo por difracción de rayos X mediante el método de polvos. Veremos que, aunque este análisis se puede realizar con software comercial o de libre acceso, existen alternativas presentadas en esta clase que pueden ser una buena opción cuando no se tiene acceso a dicho software. De hecho, algunas de las técnicas expuestas están implementadas en los programas de software para DRX.
Objetivo didáctico de la clase
Conocer y comprender los fundamentos de la técnica de análisis cualitativo y cuantitativo por difracción de rayos X por el método de polvo, el cual se puede realizar sin necesidad de uso de software comercial o de libre acceso.
Contenido didáctico
A continuación, se presenta el contenido didáctico de acceso abierto o institucional para profundizar en el tema.
| No. | Nombre del recurso | Sinopsis | Tipo de recurso | Enlace Web |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Introducción y bases de datos | En esta parte del curso, describimos la aplicación más común de la difracción de rayos X en polvos: la identificación de fases. Comenzamos con la descripción del método de Hanawalt y luego hacemos una breve reseña de las bases de datos más comunes, tanto de pago como de libre acceso. | Lectura | [Acceder] |
| 2 | Métodos de búsqueda | En esta sección, también describimos los distintos métodos de búsqueda: el alfabético, el de Hanawalt, el de Fink, los aleatorios y los automatizados. Finalmente, discutimos la efectividad de estos métodos y su uso en la computadora. | Lectura | [Acceder] |
| 3 | Análisis cuantitativo | Aunque el método de Rietveld puede ser útil para cuantificar fases en DRX de polvos, contamos con otros métodos para realizar esta tarea, como el de absorción-difracción, el de adición de estándar, el del estándar interno, el de la razón de intensidad de referencia, el método RIR generalizado y el método RIR normalizado. | Lectura | [Acceder] |
Material didáctico complementario
| No. | Nombre del recurso | Sinopsis | Tipo de recurso | Enlace Web |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Validación de la cuantificación de fases por DRX usando datos semi-sintéticos. | En este recursos presentamos un artículo que describe cómo se pueden usar los datos semi-sintéticos para la validación de la cuantificación por DRX de polvos. | Lectura | [Acceder] |
Resumen e ideas relevantes de la clase digital
En esta clase, vimos los fundamentos de la técnica de análisis cualitativo y cuantitativo por difracción de rayos X mediante el método de polvos. Comprendimos que, aunque este análisis se puede realizar con software comercial o de libre acceso, existen alternativas presentadas en esta clase que pueden ser una buena opción cuando no se tiene acceso a dicho software. De hecho, algunas de estas técnicas están implementadas en los programas de software para DRX.