Determinación del parametro de red, tamaño de cistalita y microdeformación
Presentación del tema
En esta sesión, trataremos tres temas importantes en la caracterización de la microestructura de un material. El primer tema es la determinación de los parámetros de red, que es muy importante cuando se quiere determinar la celda unitaria de un material desconocido o cuando se quiere determinar la composición de una fase de la cual se conoce la variación del parámetro de red con la composición. El segundo tema es el tamaño de cristalita, que es relevante para nanomateriales. Finalmente, la microdeformación, que es importante en el estudio de propiedades mecánicas a nivel microscópico. Estos dos últimos temas adquieren una importancia adicional cuando se estudia el ensanchamiento de los picos en los patrones de difracción de rayos X.
Objetivo didáctico de la clase
Identificar tres factores que determinen el patrón de difracción. La determinación de los parámetros de red es muy importante cuando se quiere determinar la celda unitaria de un material desconocido. Además, indica en qué posiciones deben aparecer los picos en el difractograma. El ancho de los picos está influido, entre otros factores, por el tamaño de cristalita y la microdeformación. Con este conocimiento, se puede tener una mejor idea de cómo se forma el patrón de difracción.
Contenido didáctico
A continuación, se presenta el contenido didáctico de acceso abierto o institucional para profundizar en el tema.
| No. | Nombre del recurso | Sinopsis | Tipo de recurso | Enlace Web |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Determinación de parámetro de red | Se comienza con la ley de Bragg y la fórmula para determinar las distancias interplanares a partir del parámetro de red, derivamos ecuaciones para poder determinar el parámetro de red en un difractograma. | Texto | [Acceder] |
| 2 | Tamaño del dominio y microdeformación I | Los defectos de la red cristalina, como el tamaño del dominio y la microdeformación, afectan el ancho de los picos del patrón de difracción, y este efecto sirve para caracterizar la microestructura de un material. | Texto | [Acceder] |
| 3 | Otras fuentes de ensanchamiento | Existen otros defectos de la red que pueden contribuir al ensanchamiento de los picos, como las fronteras de antifase, las fallas de apilamiento y la variación en la composición. Finalmente, se realiza una comparación de los distintos métodos para los factores que contribuyen al ensanchamiento de los picos. | Texto | [Acceder] |
Material didáctico complementario
| No. | Nombre del recurso | Sinopsis | Tipo de recurso | Enlace Web |
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| 1 | Métodos de Fourier | Se describe la forma en que los métodos de Fourier se pueden usar para describir la distribución de las longitudes de columna y la variación de la microdeformación con la longitud de columna, conocido comúnmente como el método de Warren-Averbach. | Texto | [Acceder] |
Resumen e ideas relevantes de la clase digital
En esta clase aprendimos los tres factores más comunes que influyen en el patrón de difracción. La determinación de los parámetros de red, el cual es muy importante cuando se quiere determinar la celda unitaria de un material desconocido. Nos indica en qué posiciones deben aparecer los picos en el difractograma. El ancho de los picos está influido, entre otros factores, por el tamaño de cristalita y la microdeformación. Con este conocimiento, ya podemos tener una mejor idea de cómo se forma el patrón de difracción.